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快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試
簡要描述:

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試
在半導體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)過程中,快速溫度變化濕熱試驗箱可用于模擬芯片在不同工作環(huán)境下的溫度和濕度變化。芯片在實際使用中會經(jīng)歷從低溫到高溫的快速切換,如在電子設備的啟動和運行過程中

  • 產(chǎn)品型號:TEC-800PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-12-13
  • 訪  問  量:197
詳情介紹
品牌廣皓天產(chǎn)地類別國產(chǎn)
溫度范圍- 40℃~+150℃溫度波動度±0.3℃(-20℃~+100℃)、±0.5℃(+100.1℃~+150℃)
溫度偏差±1.5℃(+100.1℃~+150℃) 升溫時間 平均非線性5℃
降溫時間平均非線性5℃濕度范圍20%~98% R.H
濕度偏差≤±3%RH溫度均勻度 ±2℃
溫度控制精度±0.5℃工作室尺寸 1000×800×1000mm
容積 800L 外形尺寸 1250×1750×2180mm
電源電壓AC380V±10%,50Hz制冷劑R404a/R23

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試


電子元器件老化測試

對于電阻、電容、電感等電子元器件,濕熱環(huán)境和溫度變化會影響其電氣性能和壽命。利用試驗箱進行老化測試,可以加速元器件的老化過程,提前篩選出存在質(zhì)量缺陷的產(chǎn)品。例如,在高溫高濕環(huán)境下,電容的絕緣性能可能會下降,通過設置不同的溫度和濕度循環(huán),能夠檢測電容在這種環(huán)境下的耐久性,確保其在實際電子產(chǎn)品中的長期穩(wěn)定運行。


快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試


(一)溫度控制系統(tǒng)

高精度傳感器

采用的鉑電阻溫度傳感器,具有高的測量精度和穩(wěn)定性。能夠?qū)崟r準確地監(jiān)測試驗箱內(nèi)的溫度變化,為溫度控制提供可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。其測量精度可達到 ±0.1℃,能夠滿足對溫度變化要求極為嚴苛的測試需求。

快速加熱與制冷技術(shù)

配備高效的加熱元件和制冷壓縮機。加熱元件采用不銹鋼鎧裝加熱絲,加熱功率大且熱響應速度快,能夠在短時間內(nèi)將試驗箱內(nèi)溫度升高到設定值。制冷系統(tǒng)采用復疊式制冷技術(shù),通過不同制冷劑的組合,實現(xiàn)了寬范圍的低溫制冷效果,并且降溫速率快,例如從常溫降至 -60℃的時間可控制在較短時間內(nèi),滿足快速變溫的要求。

智能溫度控制算法

運用的 PID(比例 - 積分 - 微分)控制算法,根據(jù)傳感器反饋的溫度數(shù)據(jù),實時調(diào)整加熱或制冷功率。該算法能夠快速響應溫度偏差,控制溫度變化曲線,使試驗箱內(nèi)的溫度按照預設的速率均勻地上升或下降,有效避免了溫度過沖或波動過大的問題,確保了溫度控制的穩(wěn)定性和準確性。




快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試


優(yōu)質(zhì)絕熱材料

試驗箱箱體采用多層絕熱結(jié)構(gòu),內(nèi)層為不銹鋼板,具有良好的耐腐蝕性能,能夠適應濕熱環(huán)境的長期作用。中間層填充高密度聚氨酯泡沫絕熱材料,其導熱系數(shù)低,有效地減少了試驗箱內(nèi)外的熱量傳遞,降低了能耗,同時保證了箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定性,減少了外界環(huán)境對測試結(jié)果的干擾。





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